Xray Diffraction (XRD) merupakan teknik analisis yang digunakan untuk mengidentifikasi struktur kristal dari material. Teknik ini menggunakan sinar-X untuk menembus sampel dan menghasilkan pola difraksi, yang dapat digunakan untuk menentukan jarak antar atom dalam kristal, orientasi kristal, dan sifat-sifat kristal lainnya. Teknik ini merupakan alat yang sangat berguna dalam mempelajari struktur molekul dan material padat.
Pengetahuan tentang karakterisasi XRD ini sangat penting, karena banyak digunakan di penelitian, terutama terkait material.
Maka dari itu, Program Studi Kimia Universitas Pertamina menggelar workshop yang mengusung topik ‘Microscopy Study by Xray Diffraction,’ dengan narasumber Dr. Eng. Paramitha Jaya Ratri (Dosen, Wakil Dekan Fakultas Sains dan Komputer), Agus Purwanto, Ph.D. (Wakil Ketua VI, PT. Cipta Mikro Material).
Workshop yang dilaksanakan secara daring dan luring ini dipandu oleh Zico Alaia Akbar Junior, Ph.D. (Dosen Program Studi Kimia Universitas Indonesia).
Pada pemaparan materinya, narasumber menyampaikan bahwa sumber XRD dapat menggunakan sinar-X yang berasal dari berbagai sumber, seperti tabung sinar-X atau sinar-X monokromatis dari sumber-sumber lain yang menghasilkan sinar-X dengan panjang gelombang yang tepat untuk analisis difraksi pada jenis material tertentu.
Sampel yang dikarakterisasi menggunakan XRD akan mendapatkan struktur kristal dan komposisi mineral dari sampel tersebut. Data hasil karakterisasi XRD dapat digunakan untuk memastikan sifat yang diinginkan dari sampel yang kita buat.
Acaranya sangat seru, narasumber sangat berkompeten, dan jelas dalam menjelaskan terkait XRD. Mengikuti kegiatan tersebut sangat bermanfaat sekali, apalagi untuk mahasiswa tingkat akhir yang sedang menyusun Tugas Akhir (TA),” ujar Muhammad Rio Ferdiansyah, peserta dan Mahasiswa Program Studi Teknik Mesin. [NA].
